扫描穿隧显微术(Scanning Tunnelling Microscopy)是利用电子穿隧效应而发展出来的。如果两电极(一极为金属探针(一般为钨针),另一极为导电样品)相距很近,并在其间加上微小电压,则探针所在的位置便有穿隧电流产生。
利用探针与样品表面的间距和穿隧电流有十分灵敏的关系,当探针以设定的高度扫描样品表面时,由于表面的高低变化,导致探针和样品表面的间距时大时小,穿隧电流值也随之改变。藉探针在样品表面上来回扫描,并记录在每一位置点上的穿遂电流值,便可得知样品表面原子排列的情形。因此,扫描穿隧显微镜是研究导电样品表面原子性质的有利工具。
选自苏州科普之窗http://www.szkp.org.cn/weiguanshijie/index.htm
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